核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
主要用于LED晶圆芯片的外延层薄膜材料(GaN、SiO2 等)的ICP刻蚀制程、半导体扩散用精密陶瓷零件及半导体晶圆的MOCVD外延制程。
采用高纯无压烧结碳化硅陶瓷材料,具有硬度高,耐腐蚀、耐磨损,使用寿命长等特点,并且产品精度高、晶圆外延层刻蚀均匀性好。直径范围:Φ50~500mm,托盘盘厚度:3~20mm,可设计和制造各种非标产品。
相关产品
更多国机金刚石(河南)有限公司
年
高级会员
高级会员
已认证
立即询价
提交后,商家将派代表为您专人服务
手机站
English
