平面元件外观缺陷检测设备(AOSI-4000F)主要用于平面光学元件的全自动外观质量检测，具有自动化程度高，批量上下料，自动传送，智能检测，根据检测结果智能分选，并生成每个元件的检测报告。设备可生成检测日志，按不同时间周期进行元件检测数量、缺陷检测类型比例等条件进行日志生产，观察生产良率变化，对生产工艺改进做出指导。