核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
JF-2型劳厄晶体分析仪能够提供稳定的X射线光源,特点是利用可控硅和集成电路自动控制系统进行调流调压,从而获得一个强而稳定的射线光源.该机射线发生器功率大,整机稳定性高,操作简单,可靠性强,防护完善,可与各种射线照相机一起构成X射线晶体分析仪,或用于其他用途的X射线光源.,广泛用于冶金,机械,电子,化工,地质,,能源,等科研、企业、大专院校.
该X射线晶体分析仪,主要用于研究物质内部微观结构。如:单晶定向、检验缺陷、物质定性、测定点阵参数、测定残余应力等。
主要参数:
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