核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
DX-7型半导体籽晶X射线定向仪
功能:此型仪器主要用于硅单晶籽晶定向,也可用于其它半导体材料的籽晶定向。
特点:此仪器为双侧工作台,右侧工作台用于对拟加工成籽晶的硅单晶锭的端面定向,然后在内圆切割机上切成籽晶条;左侧工作台用于对上述籽晶条进行定向。
技术参数:![]()
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