核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
1、用于硅、碳化硅、氮化镓等半导体材料的单片腐蚀、清洗、刷洗工艺。
2、机台可实现多尺寸兼容(4&6寸;6&8寸;8&12寸)。
3、工艺腔体经过优化设计,高性能FFU,配合可调节高度的CUP,形成一个稳定强度的downflow,严格控制wafer表面工艺区域的动态环境。
4、可以实现药液(酸/碱/有机)的排废分离,无药液的交叉污染。
5、可适用衬底及外延清洗、PRstrip、Oxideremoval等工艺。
6、支持 GEM/SECS 协议,支持MES 系统联机。
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