核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
产品应用/Product Applications:
♦适用领域:集成电路、先进封装
Relevant Industries: Integrated Circuits, Advanced Packaging
♦适用材料:Si
Suitable for Processing: Silicon (Si)
♦晶圆尺寸:12/8 英寸
Wafer Size: 12/8 inch
♦适用工艺:氮化硅(SiN)、二氧化硅(SiO2)等膜层的沉积
Silicon Nitride (SiN)、 Silicon Dioxide(SiO2), and other film layers
技术指标/Technical Indicators:
♦制程温度范围:100°C-350°C
Process Temperature Range:100°C-350°C
♦批次片数:50-100片
Batch Capacity:50-100 pcs
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