核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
此设备用于玻璃基板(基板尺寸300×300mm)表面沉积各种薄膜,可以制备出高质量的导电材料、绝缘材料和金属氧化物等纳米薄膜,这些薄膜在传感器、光电器件和阻隔层等方面具有重要应用价值。
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原子级别精度:ALD技术允许在原子级别上精确控制薄膜的厚度和组成,确保薄膜的质量和性能。
高均匀性与一致性:无论基片尺寸大小,ALD技术都能确保薄膜的均匀性和一致性,适用于大规模生产。
广泛适用性:可用于制备导电材料、绝缘材料和金属氧化物等多种纳米薄膜,满足各种应用需求。
多领域应用:在传感器、光电器件、阻隔层等领域具有广泛的应用前景,是现代微电子和纳米技术领域的核心设备。
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