手机站
English
核心参数
- 晶圆类型：SOI（绝缘体上硅）
- 生长方法：其他
- 仪器种类：实验室
- 测定原理：其它
- 测定范围：0.01~5mg/L
- 测定准确度：±1%
- 检出限 ：≤0.005mg/L
- 测定时间：30样品/小时
- 批处理量：不限
产品介绍
产品参数
应用场景
电光调制器、光模块、数据中心、AI计算机、量子计算、通信基站、激光雷达等
相关产品
更多
湖北省纵恒光电有限责任公司
年
高级会员
高级会员
已认证
立即询价
提交后，商家将派代表为您专人服务
