核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
8英寸双轴晶锭减薄机
专为碳化硅(SiC)等超硬材料晶体减薄工艺设计的高端精密设备。设备采用双主轴三工作台设计,搭配有特殊设计的自动化部组和厚度测量部组,可实现4-8英寸超厚晶体的全自动加工。
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