主推产品
高速探测器主要技术指标：型号50kHz/100kHz超高速可见探测器宽谱响应高速可见探测器宽谱响应高速近红外探测器高灵敏高速可见探测器高灵敏高速可见探测器探测器线阵版本50kHz：单/双线阵100kHz：单线阵单/双线阵单线阵感光区域长度16.3mm25.6mm(1024pixel)12.8mm(512pixel)12.8mm28.672mm(2048pixel)7.168mm(512pixel)28.672mm探测波段400-1000nm200-1000nm500-1700nm200-1000nm200-1000nm单线阵像素数1281024,5122562048,5122048像素尺寸12
碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统特点：SiC衬底位错缺陷检测专用设备光学非接触无损检测BPD、TSD、TED分类识别SiC衬底：4'/6'/8';导电、半绝缘碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统最高检测速度：＜17min/片（6"）
高速探测器
面议
纳秒脉冲激光器
面议碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统
面议组合推荐产品
最新动态
更多
瞬态吸收光谱是一种用于研究材料或分子在激发后瞬时动态过程的光谱技术。它可以提供有关物质激发态、化学反应过程、电子转移、分子间相互作用等信息，广泛应用于化学、物理、材料科学、生命科学等领域。 一、原理 瞬态吸收光谱是一种通过探测样品在激发后不同时间点的吸收特性，来揭示其动态行为的技术。该技术主要依赖于激发光与探测光之间的时间差（通常在皮秒到纳秒的范围内），从而捕捉材料在短时间内发生的光化学过程。
热门分类
虚拟号将在 163 秒后失效
使用微信扫码拨号
手机站
English
