中电科风华信息装备股份有限公司
手机扫码查看
400-861-7718
中电科风华信息装备股份有限公司
中电科风华信息装备股份有限公司成立于1998年,注册在山西转型综合改革示范区,是首批国家级创新型企业,国家级专精特新重点“小巨人”企业,国家第三代半导体技术创新中心(山西)共建单位。公司总部在山西太原,设立有上海分公司,研发人员占比超过60%,每年研发投入占比超过10%,与国内多家知名高校开展产学研用深入合作,在半导体、高端装备、电子信息等领域承担了30余项国家级、省部级科技创新项目。公司以“国内卓越、世界一流”为发展目标,聚焦半导体产业高端装备国产化,拥有自主知识产权200余项,获得省部级科技进步奖15项。产品布局分为半导体显示、半导体检测等专用生产设备板块,能够全方位为客户提供个性化定制服
查看详情

主推产品

半自动脆性材料切割设备
型号:zdkfh-qg4

产品描述:用超窄脉宽激光在光学玻璃,手机盖板,厚玻璃,LCD液晶屏内部聚光来实现异形切割的设备。釆用CCD精定位、激光切割具有PSO功能,可以很好的控制激光点间距,保证切割质量。切割治具釆用大幅面平台,可以兼容不同尺寸产品。产品参数:设备型号:DS-LCD-IRP-010-450产品尺寸:≤450mm切割精度:≤±50μm切割速度:50-80mm/S大理石平台定位精度:≤±3μm重复定位精度:≤±lμm治具幅面:500mm*500mm

面议 查看详情
激光点共焦扫描无图形晶圆检测设备
型号:zdkfh-jc3

Saturn系列设备运用激光共聚焦螺旋扫描成像技术,集成了明场、暗场、形貌、相位和多个PL等检测通道,能够全面、精准地检测抛光衬底片、外延片的颗粒与缺陷。此外,Saturn系列设备还具备自动实时对焦功能,能够有效克服晶圆翘曲带来的成像离焦问题,确保检测结果的准确性和可靠性。这款产品的推出,将为半导体材料的品质控制和工艺优化提供有力支持。

面议 查看详情
图形晶圆及先进封装检测/量测设备
型号:zdkfh-jc2

Venus系列该设备应用于硅、碳化硅及其他化合物半导体等图形化晶圆或器件表面的颗粒、缺陷检测和蓝膜切割片、扩膜片的缺陷检测及先进封装TGV、RDL检测&量测。设备采用明暗场多通道,多波长(W/R/G/B)同步检测,结合可变倍率成像全片扫描检测和高倍成像缺陷复检,自动检测图形化芯片的各种缺陷并生成缺陷坐标图。具有多通道同步单次检测、高检测通量、高兼容性等优势。

面议 查看详情

半自动脆性材料切割设备

面议

激光点共焦扫描无图形晶圆检测设备

面议

图形晶圆及先进封装检测/量测设备

面议

组合推荐产品

  • 切割设备
  • 检测设备
半自动脆性材料切割设备

型号:zdkfh-qg4

面议
咨询
对刀切割生产线

型号:zdkfh-qg1

面议
咨询
全自动LCD全面屏激光切割机

型号:zdkfh-qg2

面议
咨询
OLED柔性屏切割机

型号:OLED

面议
咨询
激光点共焦扫描无图形晶圆检测设备

型号:zdkfh-jc3

面议
咨询
图形晶圆及先进封装检测/量测设备

型号:zdkfh-jc2

面议
咨询
显微成像无图形晶圆检测设备

型号:zdkfh-jc

面议
咨询
半自动脆性材料切割设备

型号:zdkfh-qg4

面议
咨询
对刀切割生产线

型号:zdkfh-qg1

面议
咨询
全自动LCD全面屏激光切割机

型号:zdkfh-qg2

面议
咨询
OLED柔性屏切割机

型号:OLED

面议
咨询
激光点共焦扫描无图形晶圆检测设备

型号:zdkfh-jc3

面议
咨询
图形晶圆及先进封装检测/量测设备

型号:zdkfh-jc2

面议
咨询
显微成像无图形晶圆检测设备

型号:zdkfh-jc

面议
咨询

热门分类

切割设备

热门产品

检测设备

热门产品
131-3622-2457

虚拟号将在 163 秒后失效

使用微信扫码拨号

为了保证隐私安全,平台已启用虚拟电话,请放心拨打(暂不支持短信)