核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
Si外延石墨载盘是半导体硅外延工艺的核心承载部件,通常以高纯度石墨为基体,表面制备致密 CVDSiC 涂层,具备优异的热稳定性、化学惰性与洁净度,可保障外延层均匀生长与晶圆良率。
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