核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
设备简介
该设备采用单磨削主轴和单载片台的配置,通过手动上下料,可完成晶片的自动磨削。
原理:高速旋转的主轴带动砂轮对真空吸附在载片台上的晶圆进行磨削。
组成:主机、磨削主轴、Z向运动单元、载片台、Y向工作台、测量模块、系统防护模块、控制模块等。
设备特点
适用于硅、半导体化合物、塑封基板、陶瓷等多种硬脆材料的磨削加工。
能够对圆片、方片、碎片等不同形状的晶片进行加工。
配置了触摸式液晶显示器及图形化用户接口,而且设备的加工状态可在控制画面上同步显示,操作人员只要触摸控制画面上的按钮,就可以简单地完成操作。
最大加工尺寸12寸。
结构紧凑,设备尺寸为 750(W)×1700(D)×1800(H),占地仅有1.28平方米。
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