核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
SiC 涂层为采用化学气相沉积工艺制备的薄层材料。相较于单晶硅,碳化硅击穿电场强度可达硅的 10 倍、禁带宽度为硅的 3 倍,兼具耐高温、耐化学腐蚀、高耐磨与优异导热性能
特性
良好的导热性
涂层厚度均匀、平整度高
耐腐蚀
热膨胀系数与石墨匹配性佳,结合力强
应用领域解决方案
硅外延衬底:提供低缺陷、高导热支撑平台,保障外延层均匀生长并有效散热。
单晶硅制造设备部件:用于坩埚内衬、导流与保温结构,耐高温耐腐蚀,防止硅液污染。
MOCVD 衬底:用于 GaN 等外延生长基底,影响外延层质量与性能。
加热器部件:用于高温加热系统,提供均匀稳定热源。
散热片:用于快速导热散热,控制设备温度稳定。
抗氧化组件:用于高温氧化环境防护,减少部件氧化损耗。
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