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优尼康科技&翌颖科技是KLA旗下Filmetrics光反射膜厚仪的中国区总代理。公司从成立伊始就专注于精密薄膜测量领域,为高科技企业、高校及科研机构提供专业的测量设备与解决方案。公司业务覆盖半导体制造、先进封装、新材料研发、新型显示技术、生物医学及新能源等多个前沿行业,致力于为客户提供包括薄膜厚度测量、表面形貌分析、纳米力学性能测试、电学性能表征及实验室环境优化在内的一站式测量解决方案。基于一对一销售、专业技术支持、备件管理与咨询服务体系,公司始终注重以技术实力和行业经验为客户创造价值。区别于传统设备销售模式,优尼康核心团队在薄膜测量领域深耕逾十年,具备深厚的测量经验与研发能力。我们不
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型号:S2R-60

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四探针电阻率测量仪
型号:KLA R54

KLAR54四探针电阻率测量仪采用四点探针(4PP)和非接触式电涡流(EC)双模技术,测量范围覆盖10个数量级(低至1mΩ/sq),4PP重复性优于0.02%。设备配置边界效应动态校正与探针间距误差补偿功能,封闭式外壳适配光敏与环境敏感样品。支持200mm/300mm晶圆或A4方形样品全自动测绘,RSMapper软件支持矩形、线性、极坐标及自定义测试点模式,可生成金属薄膜均匀性、离子注入掺杂与退火表征、薄膜厚度/电阻率等二维及三维分布图谱。适用于半导体晶圆、化合物半导体、太阳能电池(包括TOPCon)、LED、平板/VR显示、先进封装、印刷电路板及柔性可穿戴电子等行业。

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显微镜膜厚测量仪
型号:Filmetrics F40

FilmetricsF40显微镜膜厚测量仪将显微镜升级为微区光学膜厚仪,1μm光斑测量带图案、弯曲及非均匀样品。优尼康科技代理KLAFilmetrics,咨询热线400-18******,支持免费测样与选型。

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