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核心参数
- 仪器种类：实验室
- 测定原理：其它
- 测定范围：0.01~5mg/L
- 测定准确度：±1%
- 检出限 ：≤0.005mg/L
- 测定时间：30样品/小时
- 批处理量：不限
产品介绍
外延片由抛光片经过外延生长形成，在抛光面上生长一层或多层具有特定掺杂类型、电阻率、厚度和晶格结构的外延层。
中环领先半导体科技股份有限公司
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外延片由抛光片经过外延生长形成，在抛光面上生长一层或多层具有特定掺杂类型、电阻率、厚度和晶格结构的外延层。
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