核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
半绝缘型SiC衬底具有较高的电阻率,常用于氮化镓异质外延、以HEMT为代表的射频器件兼备了碳化硅
良好的导热性能和氮化镓在高频段下大功率射频输出的优势,广泛应用于5G基站等新一代通信领域。
半绝缘型碳化硅衬底材料还具备优良的光学性能,12英寸衬底在AR眼镜等光学和穿戴电子领域有着广阔的应用前景。
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基本信息
6英寸
直径150.0mm+0mm/-0.2mm
表面取向{0001}±0.2°
主参考面取向/
副参考面取向/
主参考边长度Notch
副参考边长度无参考副边
Notch边取向<1100>±1.0°
Notch边深度距边1.0mm+0.25mm/-0.00mm
Notch边角度90°+5°/-1°
厚度500.0um士25.0um
导电类型半绝缘
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