核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
SAP200-4H2P-FA主要用于8寸碳化硅、蓝宝石、半导体材料、铌酸锂、玻璃等硬脆材料平行平面的单片单面高精度、高效率抛光。CMP设备高效抛光去除速率、低划痕控制、自动清洗,全自动干进干出优势突出,有效解决产业瓶颈。
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