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核心参数
- 仪器种类：实验室
- 测定原理：其它
- 测定范围：0.01~5mg/L
- 测定准确度：±1%
- 检出限 ：≤0.005mg/L
- 测定时间：30样品/小时
- 批处理量：不限
产品介绍
晶圆形貌测量设备，基于光谱共聚焦技术研发，专注于晶圆 THICKNESS（厚度）、TTV（总厚度变化）、BOW（弯曲度）、WARP（翘曲度）及 LTV（局部厚度变化）等外形参数测量与分选
专注于化合物半导体及键合片
适用范围广，具有极高性价比
可提供高精度、高产能晶圆形貌测量
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昂坤视觉（北京）科技有限公司
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