核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
用于半导体设备的光纤测温仪,可用于SiC外延,硅外延,MOCVD顶盖测温等
多用途,低成本,可配置1-4通道
多种波长可选,0.9um, 1.55um, 1.8um, 2.4um
不同波长可混合搭配,一台设备实现多波长测温
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