手机站
English
核心参数
- 仪器种类：实验室
- 测定原理：其它
- 测定范围：0.01~5mg/L
- 测定准确度：±1%
- 检出限 ：≤0.005mg/L
- 测定时间：30样品/小时
- 批处理量：不限
产品介绍
晶圆表面温度测量仪T405，近紫外 405nm 测温仪，可以直接测量 wafer 或薄膜表面温度，不受翘曲和其他因素的影响，从而满足更高要求的 MOCVD 工艺监测需要
测温波长405nm
测温范围650-1300度
可和昂坤RTC设备协同使用，实现发射率修正的405nm温度监测
相关产品
更多
昂坤视觉（北京）科技有限公司
年
高级会员
高级会员
已认证
立即询价
提交后，商家将派代表为您专人服务
