核心参数
- 压力范围:键合压力:100KN
- 温度范围:键合温度:550℃ ( 可选 )
- 精度:对位精度:≤ 1μm
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
全自动高真空晶圆键合设备用于射频、惯性、光电、信号传输等 微系统晶圆级封装,高端 MEMS、高性能逻辑器件等同质异质键合, 尤其适用于低温键合。 可选配模块有烘烤模块、激活模块、对位模块、键合模块以及冷 却模块,根据用户需求灵活选择。
中国电子科技集团公司第二研究所
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