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晶圆缺陷检测全自动设备

晶圆缺陷检测全自动设备
  • 品牌:
  • 产地:珠海
  • 关注度:16
  • 型号:WID100
  • 报价:面议
核心参数
  • 仪器种类:实验室
  • 测定原理:其它
  • 测定范围:0.01~5mg/L
  • 测定准确度:±1%
  • 检出限 :≤0.005mg/L
  • 测定时间:30样品/小时
  • 批处理量:不限
产品介绍

产品描述    

该产品为全自动/半自动外观检测系统,专用于无图形衬底/有图形外延晶圆表面各类微观缺陷的高效识别与分类。

全自动设备支持自动上下料、宏观件和微观检集成,自动检测与缺陷分类,有效替代人工目检,大幅提升出货品质管控效率。

应用    

1、外延厂对衬底晶圆的来料检验 

2、外延后制程品质管控检验

检测方式    

非接触视觉自动检测 

适用产品    

GaAs, GaSb, InP衬底和外延

相机规格    

4K5um线扫相机

物镜倍率    

10X、20X

像素解析度    

0.5μm/0.25μm

检测精度    

2μm/1μm

   



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