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晶圆平整度检测设备(平面支撑)

晶圆平整度检测设备(平面支撑)
  • 品牌:
  • 产地:珠海
  • 关注度:22
  • 型号:WIS100
  • 报价:面议
核心参数
  • 仪器种类:实验室
  • 测定原理:其它
  • 测定范围:0.01~5mg/L
  • 测定准确度:±1%
  • 检出限 :≤0.005mg/L
  • 测定时间:30样品/小时
  • 批处理量:不限
产品介绍

检测方式    非接触式光学传感器    

适用产品    化合物半导体晶圆(SiC、InP、GaAs、GaSb等)    

固定方式    平面支撑,真空吸附    

晶圆规格    2~8寸,可扩展至12寸 (12寸需定制开发)    

重复精度    0.1μm 3sigma (TTV,LTV)    

检测精度    0.1μm    

输出形式    直观的数据+2D或3D图形方式呈现    


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