核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
产品描述
1、该设备为全自动陶瓷基板翘曲度精密测量系统,专用于陶瓷基板表面三维形貌的高精度扫描与翘曲量化评估。
2、设备使用高精度运动平台与专业分析软件,可快速获取基板全表面高度数据,自动计算翘曲度、平面度及厚度等关键形貌参数,为工艺优化与质量判定提供可靠数据支撑。
应用
1、陶瓷基板为泛半导体应用,其下游领域涉及光纤通信、电子电器、新能源汽车、机械工程、航空航天、军事设备等方面的广泛应用。
2、其量测覆盖适配氧化铝(Al2O3)、氮化铝(AlN)、氮化硅(Si3N4)等陶瓷基板,对该行业上游质量管控自动化和数据化管理具有重要意义。
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