核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
产品性能:
*垂直结构,5~50片/批
*稳定优良的成膜均匀性,重复性好
*微环境低氧控制***技术
*硅片颗粒度控制稳定,国际标准
*多工艺选择,模块化,操作便利
*全自动流程,盒对盒,AGV对接
*高集成度,符合SECSⅡ/HSMS/GEM等标准
配套工艺:
*氧化:干氧/湿氧(DCE, HCL),氮、氢退火,合金、固化,快速热退火
*多晶硅P-Si,氮化硅Si3N4,氧化硅SiO2,磷硅玻璃PSG,硼磷硅玻璃BPSG
*TEOS,LTO,HTO,SIPOS...
垂直氧化/LPCVD用于IC集成电路、MEMS、电力电子器件、光电子器件等领域,6"/8"/12"晶圆的氧化、合金、退火、薄膜沉积及参杂等工艺。
青岛华旗科技有限公司
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