全站

  • 全站
  • 资讯
  • 产品
  • 厂商
×

*产品类别

*产品需求

*联系人

*单位名称

*手机号

*短信验证码

获取验证码

*图形验证码

提交
点击提交代表您同意 《用户服务协议》《隐私协议》

当前位置:

资讯 >
剑指CPO集成痛点:硅基短波红外探测迎来关键破局
剑指CPO集成痛点:硅基短波红外探测迎来关键破局
山川2026/06/30 15:54
阅读:33

手机扫码查看
导读: 专家报告:面向CPO与硅光集成的硅基短波红外光电探测技术

CPO(光电共封装)和硅光集成走到今天,"拼图"其实已经拼得七七八八——调制器从MZM卷到微环、激光器从片外耦合卷到异质集成/外置ELSFP、光纤耦合从FAU卷到Teramount无源对准——但有一块始终没被很好地补齐:通信波段的硅基光电探测。


这不是个小问题。硅的间接带隙约1.12 eV,对应截止波长~1.1 μm,1310 nm和1550 nm这两个CPO和硅光芯片的"母语波长",硅天生看不见。要做探测,传统路子是挂InGaAs等III-V材料——但这就背离了硅光最核心的叙事:CMOS工艺兼容、单片集成、低成本。一旦探测端要额外键合III-V,CPO追求的"全硅光链路"就被撕开一道口子,封装复杂度、良率、成本全线承压。


所以业内有个越来越清晰的共识:谁能把短波红外(SWIR,1.3–2 μm)探测"塞回"硅平台,且做到室温工作、工艺干净、成本低,谁就替CPO拼上了最后那块关键拼图——片上监控、负载均衡、路由切换、故障定位这些"芯片自己要知道光还在不在"的功能,才有落地的物理基础。


8月12日,中粉会展将在江苏苏州举办2026光电共封装技术与硅光芯片产业研讨会,我们邀请到苏州大学张程副教授出席大会并作题为《面向CPO与硅光集成的硅基短波红外光电探测技术》的报告,届时,张程副教授将围绕面向CPO与硅光集成的硅基短波红外光电探测技术展开,针对硅材料受带隙限制难以实现 1.3–2 μm 尤其通信波段(1310/1550 nm)光探测的关键问题,分享兼具低成本、CMOS工艺兼容及室温工作能力的新型硅基探测方案。


CPO的竞争已经进入"拼全链路集成度"的深水区。调制、激光、耦合、封装都在快速演进,探测这块谁能先把CMOS兼容方案跑通,谁就可能在下一代硅光芯片的"片上监控与传感"版图里占下一个关键锚点。


8月12日,苏州,听张程副教授拆解这个"硅的盲区"如何被微纳结构点亮。



专家介绍:

张程,男,副教授,硕士生导师。2018年6月博士毕业于苏州大学,博士毕业后入选苏州大学优秀青年学者人才计划留校工作。主持国家和江苏省自然科学青年基金、江苏省高校重大项目、苏州市前瞻性应用基础研究项目等。入选江苏省科协青年科技人才托举工程和江苏省高校青蓝工程,担任《红外与激光工程》青年编委。主要研究方向为硅基室温短波红外光电探测与应用。以第一或通讯作者在 Light: Science & Applications、Advanced Functional Materials (2篇)、ACS Nano、Nano Energy(3篇)、ACS Photonics(5篇)等期刊发表论文二十余篇,授权中国及美国发明专利十余项,研究成果获2019年度中国光学学会光学科技二等奖、2019年教育部自然科学二等奖等奖励。


注:图片非商业用途,存在侵权告知删


会展