核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
Stellar Oxide Ⅰ系统是专为满足研究需求的氧化物生长MOCVD设备,设备采用先进控制系统,实现高精度生长,确保材料质量;模块化设计,操作简便,高效稳定;支持灵活定制,满足多样化科研需求;专业团队提供全方位服务,是探索氧化物材料、推动科研创新的理想选择。
产品特点
— 衬底规格:1*2"
— 工艺温度:20-1000℃
— 典型生长材料:氧化物,如 Ga2O3、ZnO等
— 气路漏率:≤ 1.0*10-9 mbar*l/s
— 前驱体:TMGa可扩展至多8路源
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