核心参数
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
Aurora Serial Ⅱ ALD系统是市场领先的ALD设备,无论是对于工业化创新企业还是研究机构都能成为首选工具。灵活的设计和高兼容性是他的特色,在满足高质量薄膜生长的要求下以适应未来市场的需求和应用。 该系统采用了灵活的源供应解决方案,以满足客户不同工艺的需求。进气系统独特的设计保证了气体流场的均匀性,以达到更佳的生长效果,此外衬底独立控温也是此系统的一大特点,此外系统还提供了Loadlock和Plasma作为选项,以满足客户多样化的需求。
产品特点
— 衬底规格:50-200mm
— 工艺温度:20-600℃
— 典型生长材料:Al2O3, SiO2, Ta2O5, ZnO, HfO2, TiO2
— 前驱体:Al源、硅源、锌源等
— 气路漏率:≤ 1.0*10-9 mbar*l/s
— 可选项:Loadlock, Plasma
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